logo
Каталог
basket-button
0
Назад

DB-50 Двулучевые электронные микроскопы

Специалистам по закупкам
Отправить заявку: ecnk@ecnk.ru
 copy
Связаться с менеджером 8 800 777 18 43  telegram
truckСрок поставки 2 недели
Цена (вкл. НДС)
Цена по запросу
Уточнить цену
Техническим специалистам
Технические вопросы: support@ecnk.ru
 copy
Связаться с менеджером 8 800 777 18 43  telegram
Гарантия:
1 год
Наличие:
уточняйте у менеджера
Способ доставки
cdekdelovye-linii
Описание
Особенности
Характеристики
Отзывы

Описание

DB-50 Двулучевые электронные микроскопы

DB-50 - это двулучевой сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом на термополевой эмиссии типа Шоттки. Прибор обладает широкой вакуумной камерой и большим предметным столом, удобной оптической навигацией по образцам, имеет широкий выбор детекторов, а также порты для установки различного дополнительного аналитического оборудования и проведения динамических экспериментов (нагрев, охлаждение, сжатие, растяжение и т.д.).
Усовершенствованная конструкция корпуса объектива, высоковольтная туннельная технология (SuperTunnel), конструкция объектива с низкой аберрацией и отсутствие магнитной объективной линзы позволяют получать изображения высоким разрешением на низких ускоряющих напряжениях, в том числе проводить анализ магнитных образцов. 
Ионная колонна (ФИП) даёт не только возможность получения кросс-секций, но и при наличии наноманипулятора (опция) позволяет готовить ПЭМ-образцы с высокой степенью локализации исследуемых объектов, с последующим их анализом как локально с помощью СПЭМ-детектора (опция), так и удалённо на ПЭМ сверхвысокого разрешения. 
Оптическая навигация, функции автоматизации, хорошо продуманный пользовательский интерфейс, оптимизированные рабочие процессы - независимо от того, есть у вас богатый опыт работы или нет, вы можете быстро приступить к работе и выполнять исследовательские задачи с гарантированно качественным результатом.

Особенности

  • ФИП высокого разрешения для получения кросс-секций и изготовления ПЭМ-образцов;
  • изображения с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении;
  • электромагнитный комбинированный объектив уменьшает аберрации, значительно улучшает разрешение при низком напряжении и позволяет наблюдать магнитные образцы;
  • большая рабочая камера;
  • навигационная камера уже в базовой комплектации;
  • регулируемая диафрагма с магнитным отклонением с шестью отверстиями, автоматическое переключение отверстий диафрагмы, отсутствие необходимости в механической регулировке позволяют быстро переключать ток пучка между аналитическим режимом и режимом высокого разрешения;
  • системы автоматизации для качественной визуализации и настройки систем микроскопа.

Характеристики

Тип микроскопа

Двулучевой

Характеристики электронной пушки

Тип катода

Термополевой катод типа Шоттки

Тип предметного столика

Пятиосевой моторизованный

Есть

Двухосевой моторизованный

Нет

Максимальный вес образца, г

5000

Максимальный диаметр образца, мм

270

Ход по осям X и Y, мм

120 × 115

Воспроизводимость по осям X и Y, мкм

< 2,0

Ход по оси Z, мм

50

Поворот, град.

360

Наклон, град.

–10/+90

Ширина камеры, мм

340

Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт.

13

Детекторы

Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли

Есть

ИК-камера для наблюдения положения образца в камере

2

Навигационная камера высокого разрешения

Есть

Интегрированная система измерения тока луча

Есть

Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD)

Нет

Внутрилинзовый детектор

Есть

Детектор обратно-отраженных электронов (BSED)

Опция

Детектор прошедших электронов (STEM)

Опция

Детектор для катодолюминесценции (CL)

Опция

Детектор Raman

Опция

ЭДС

Опция

ДОРЭ

Опция

ВДС

Опция

Режимы вакуума

Высокий вакуум, Па

< 5,0 × 10-6

Низкий вакуум, Па

Нет

Безмасляная вакуумная система

Есть

Дополнительное оборудование

Литография

Опция

Крио-СЭМ

Опция

Манипулятор

Опция

Зондовые станции

Опция

Панель управления микроскопом

Опция

Трекбол

Опция

Столик для охлаждения

Опция

Столик для нагрева

Опция

Столик для растяжения/сжатия

Опция

Вакуумный шлюз

Опция

Функция замедления пучка

Есть


Отзывы

У этого товара пока нет отзывов

Рекомендация экспертов

ZEM15 Настольный сканирующий электронный микроскопZEM15 Настольный сканирующий электронный микроскоп
Цена по запросу
ZEM18 Настольный сканирующий электронный микроскопZEM18 Настольный сканирующий электронный микроскоп
Цена по запросу
Получите рекомендацию эксперта

DB-50 Двулучевые электронные микроскопы

Компания ЕЦНК занимается продажей качественного оборудования для осуществления контроля качества выпускаемых изделий на производстве. На сайте ECNK.ru вы можете купить DB-50 Двулучевые электронные микроскопы с поверкой по самой доступной цене в Москве.Мы предлагаем 3 варианта доставки: самовывоз, курьером или до терминала “Деловых линий” в вашем городе.
Наш адрес: ул. Вавилова, 79. Режим работы: Пн.-Пт. с 9:00 до 18:00.
Для того, чтобы заказать доставку по Москве:
  • позвоните по телефону +7 (499) 703-39-69;
  • напишите в WhatsApp на номер +7(981)125-98-20;
  • отправьте письмо на электронную почту ecnk@ecnk.ru
Также, вы можете заказать бесплатный звонок специалиста. Заполните форму обратной связи, укажите ФИО, номер телефона и адрес электронной почты.
Подпишитесь на нас чтобы быть в курсе новостей отрасли и расписания обучения